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  • 447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器
    447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器
    447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器,IDOL 系列產(chǎn)生特殊的1342nm 波長及其倍頻(671nm)、三倍頻(447nm),其中1342nm 特別適合硅材料處理如隱形劃片、集成電路修剪,而671nm、447nm則在顯示平板修補(bǔ)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。
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  • 213/224 深紫外納秒激光器(IMPRESS 系列)
    213/224 深紫外納秒激光器(IMPRESS 系列)
    213/224 深紫外納秒激光器(IMPRESS 系列),可用于FBG 刻蝕、鉆石及藍(lán)寶石打標(biāo)加工等應(yīng)用,213nm 波長及TEM00 模式使它可以用于小于微米的直寫加工。
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  • 193nmDUV深紫外單縱模固體激光器
    193nmDUV深紫外單縱模固體激光器
    193nmDUV深紫外單縱模固體激光器,光譜帶寬接近其理論傅立葉極限。該193nm激光器的中心波長可在185和194 nm之間的范圍內(nèi)定制,訂購時(shí)可配置為固定波長。
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  • VFI 光纖端面干涉儀
    VFI 光纖端面干涉儀
    VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖,包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產(chǎn)和質(zhì)量保證領(lǐng)域已得到反復(fù)驗(yàn)證。
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  • 單周期超短脈沖測量儀(d-cycle)
    單周期超短脈沖測量儀(d-cycle)
    單周期超短脈沖測量儀(d-cycle)是實(shí)現(xiàn)快速且精確測量超短脈沖的優(yōu)先方案,尤其是針對(duì)苛刻的超短脈沖光源,如超寬帶光譜和單周期(single-cycle)的脈沖,也是目前可測量shortest pulse 的商業(yè)化測量儀器。d-cycle靈活且獨(dú)立的設(shè)計(jì)架構(gòu)能夠測量各種超短脈沖光源,比如寬帶振蕩器,放大器
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  • 高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測量儀
    高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測量儀
    高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測量儀獨(dú)特亮點(diǎn)在于可選配用于外部原位測量的非接觸式光纖探頭,實(shí)現(xiàn)對(duì)定制容器、反應(yīng)器內(nèi)部或預(yù)灌封注射器等場景的直接無損監(jiān)測,避免了分批處理,集成了粒度、Zeta 電位和遠(yuǎn)程測量這“三合一解決方案”。
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  • FP標(biāo)準(zhǔn)具
    FP標(biāo)準(zhǔn)具
    昊量光電代理的FP標(biāo)準(zhǔn)具旨在根據(jù)用戶的需求設(shè)計(jì)蕞符合客戶需求的產(chǎn)品,您只需提供簡單的參數(shù)要求,就可以預(yù)先獲得工程師設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)具設(shè)計(jì)方案進(jìn)行確認(rèn),所有的標(biāo)準(zhǔn)具都被設(shè)計(jì)安裝在一個(gè)彈性單元內(nèi),可以提供蕞大程度的保護(hù)。
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  • 單發(fā)超短脈沖測量儀(d-shot)
    單發(fā)超短脈沖測量儀(d-shot)
    d-shot 是基于色散掃描技術(shù)(D-scan)開發(fā)的一款超短脈沖測量儀。d-shot 適用于寬光譜超短激光的測量,支持重頻single shot至MHz。使用方便,將光束耦合到 d-shot 只需幾分鐘時(shí)間,能夠進(jìn)行實(shí)時(shí)、流暢的測量。單發(fā)超短脈沖測量儀(d-shot)
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  • 光熱測量系統(tǒng)(光學(xué)弱吸收)
    光熱測量系統(tǒng)(光學(xué)弱吸收)
    光熱測量系統(tǒng)(光學(xué)弱吸收)主要用途是對(duì)不同光學(xué)元件(如鍍膜、基底、晶體、界面等)的吸收特性進(jìn)行表征。該裝置采用泵浦-探測方式,基于熱透鏡效應(yīng),吸收測試在“泵浦”激光的波長下進(jìn)行。為提高靈敏度,泵浦光經(jīng)斬波調(diào)制,以實(shí)現(xiàn)對(duì)被測樣品的周期性加熱。探測光束感知被吸收的泵浦光所引起的加熱效應(yīng)。
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  • 雙頻激光干涉儀
    雙頻激光干涉儀
    雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統(tǒng),它的測量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用,它既可以應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室,也可以用于機(jī)器幾何測量。精確的機(jī)器校準(zhǔn)對(duì)于提供高質(zhì)量的產(chǎn)品至關(guān)重要。使用我們的系統(tǒng),您可以快速、輕松地進(jìn)行精確的校準(zhǔn)?;九渲媚軌蜻M(jìn)行線性位移、振動(dòng)、速度和定位的測量。
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  • 一機(jī)多能的“全棧式”光束分析儀
    一機(jī)多能的“全棧式”光束分析儀
    Building Block系列 | 一機(jī)多能的“全棧式”光束分析儀:一機(jī)多能,可同時(shí)適用于近場光束、聚焦光束、大光斑光束等場景測量!
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  • 通訊波段專用光束分析儀
    通訊波段專用光束分析儀
    通訊波段專用光束分析儀主要分為CinCam cmos-1202和CinCam CMOS-1201-IR兩種相機(jī),基本涵蓋了所有通訊波長,其響應(yīng)波長范圍為320~1610nm,主要用于測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長的激光器。CinAlign測量的激光光斑范圍為52um~4mm,兼容測量連續(xù)以及脈沖激光器。
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