| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子/電池 |
| 手持式膜厚測量儀 | MProbe 20 HC |
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有專為單層和雙層應用優化的數據分析算法。它還使用手動探針代替樣品臺。手動探頭通過光纖電纜連接到測量單元。這為在任何位置的彎曲和大表面上測量厚度提供了靈活性。一些應用實例包括：抗紫外線和頭燈，保險杠，尾燈蓋的硬涂層，防霧涂層上的透鏡和其他表面在汽車制造在眼鏡鏡片上進行加工和鍍膜。標準手動探頭用于測量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探頭測量小至 10mm 區域的涂層厚度。對于較小或圓形/圓柱形零件的厚度測量，我們推薦MProbe 40 MSP系統。
（彎曲表面）測量特點：
1.支持底漆或界面 (IPL) 層；
2.曲面和/或大型零件的厚度測量；
3.可以測量有色產品，校正背面反射；
4.材料：500多種擴展材料數據庫；
5.一鍵可靠測量。
（彎曲表面）規格指標：
精度 | 0.01nm或0.01% |
準確度 | 0.2%或1nm |
穩定性 | 0.02nm或0.03% |
聚焦點尺寸 | 0.2mm或0.4mm |
樣品尺寸 | >20mm |
厚度范圍 | 0.05-70um |
波長范圍 | 400-1000nm |
*可根據要求設計定制探頭
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